Дифракционные и микроскопические методы и приборы для анализа наночастиц и наноматериалов, Векилова Г.В., Иванов А.Н., Ягодкин Ю.Д., 2009

Дифракционные и микроскопические методы и приборы для анализа наночастиц и наноматериалов, Векилова Г.В., Иванов А.Н., Ягодкин Ю.Д., 2009.

  В учебном пособии рассмотрены физические основы методов и аппаратура для проведения рентгеноструктурного, электроно- и нейтронографического анализов, просвечивающей электронной микроскопии, растровой электронной микроскопии и рентгеноспектрального микроанализа, позволяющие исследовать химический состав и структуру различных материалов, в том числе и нанокристаллических. Особое внимание уделено описанию возможностей этих методов, их точности, чувствительности и локальности.
Соответствует программе курса «Методы и приборы для анализа и диагностики наночастиц и наноматериалов».
Предназначено для студентов, обучающихся по направлению «Нанотехнология» (специальность «Наноматериалы») и по направлению «Материаловедение и технологии материалов» (профиль «Материаловедение и технологии наноматериалов и наносистем»).



Регистрация рентгеновского излучения.
Основными способами регистрации является регистрация на экран, на фотопленку и регистрация с помощью счетчиков рентгеновских квантов. Во всех случаях для регистрации используется фотоэффект.

При регистрации дифракционной картины с помощью экрана его поверхность покрывается веществом, способным испускать флуоресцентное излучение в световом диапазоне. Этот способ используется для быстрой качественной регистрации картины или при настройке рентгеновского оборудования.

Регистрация на фотопленку позволяет получить пространственную картину распределения интенсивности, но требует фотометрирования для проведения количественных оценок интенсивности. При попадании на фотоэмульсию, содержащую соли серебра, рентгеновские лучи выбивают электроны из атомов эмульсии, что приводит к восстановлению ионов серебра из соединения. При последующей фотообработке это вызывает почернение зерна эмульсии, в котором поглотился рентгеновский квант. Почернение пленки увеличивается с ростом интенсивности рентгеновского излучения и времени экспозиции.

ОГЛАВЛЕНИЕ
Введение
1. Основы кристаллографии и кристаллохимии
1.1. Пространственная решетка. Элементарная ячейка и базис. Кристаллографические индексы направлении и плоскостей
1.2. Основные представления кристаллохимии.
Атомные радиусы. Плотноупакованные решетки, поры. Понятие структурного типа
2. Дифракция рентгеновского излучения на кристаллах. Кинематическая теория рассеяния
2.1. Природа рентгеновского излучения. Основной закон ослабления рентгеновских лучей
2.2. Обратная решетка. Кинематическая теория рассеяния рентгеновских лучей кристаллом. Условия Лауэ и уравнение Вульфа - Брэгга
2.3. Рассеяние рентгеновских лучей электроном, атомом, элементарной ячейкой и кристаллом. Структурная амплитуда, законы погасания. Интегральная интенсивность отражений
3. Основные методы рентгеноструктурного анализа и их применение для анализа наночастиц и наноматериалов
3.1. Методы и приборы для регистрации рентгенограмм. Классификация методов рентгеноструктурного анализа
3.2. Метод поликристалла. Принципы определения кристаллической структуры по рентгенограмме поликристалла. Прецизионное определение периодов решетки
3.3. Фазовый качественный и количественный анализ. Анализ твердых растворов. Построение диаграмм состояния
3.4. Изучение степени совершенства структуры зерен в поликристаллах по уширению дифракционных максимумов. Оценка размеров частиц в наноматериалах
3.5. Анализ текстур. Прямые и обратные полюсные фигуры
4. Основы электроно- и нейтронографии
4.1. Особенности рассеяния электронов и нейтронов кристаллами
4.2. Электронография и ее применение для исследования материалов
4.3. Нейтронография и ее применение для исследования материалов
5. Просвечивающая электронная микроскопия
5.1. Оптическая схема и принципы работы просвечивающего электронного микроскопа. Его основные характеристики и задачи метода
5.2. Контраст электронно-микроскопического изображения. Исследование гетерогенных сплавов и дефектов решетки
6. Растровая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ
6.1. Оптическая схема растрового электронного микроскопа и рентгеновского микроанализатора
6.2. Получение изображения в электронном и характеристическом рентгеновском излучении
6.3. Качественный и количественный анализ химического состава материалов методом рентгеноспектрального микроанализа
Библиографический список.

Купить книгу Дифракционные и микроскопические методы и приборы для анализа наночастиц и наноматериалов, Векилова Г.В., Иванов А.Н., Ягодкин Ю.Д., 2009 .





Теги: учебник по нанотехнологии :: нанотехнология :: Векилова :: Иванов :: Ягодкин