Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий, Методы и применение, Жу У., Уанга Ж.Л., 2021

По кнопке выше «Купить бумажную книгу» можно купить эту книгу с доставкой по всей России и похожие книги по самой лучшей цене в бумажном виде на сайтах официальных интернет магазинов Лабиринт, Озон, Буквоед, Читай-город, Литрес, My-shop, Book24, Books.ru.

По кнопке «Купить и скачать электронную книгу» можно купить эту книгу в электронном виде в официальном интернет магазине «ЛитРес», и потом ее скачать на сайте Литреса.

По кнопке «Найти похожие материалы на других сайтах» можно искать похожие материалы на других сайтах.

On the buttons above you can buy the book in official online stores Labirint, Ozon and others. Also you can search related and similar materials on other sites.

Ссылки на файлы заблокированы по запросу правообладателей.

Links to files are blocked at the request of copyright holders.


Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий, Методы и применение, Жу У., Уанга Ж.Л., 2021.

В книге под редакцией известных ученых собраны статьи и обзоры видных специалистов в области нанотехнологий, посвященные растровой электронной микроскопии (РЭМ). С помощью РЭМ можно изучать свойства наночастиц, нанопроволок, нанотрубок, трехмерных наноструктур, квантовых точек, магнитных наноматериалов, фотонных кристаллов и биологических наноструктур. Рассмотрены различные типы РЭМ, включая просвечивающие микроскопы с высоким разрешением, рентгеновский микроанализ, новейшие методы получения изображения посредством обратно рассеянных электронов, а также методы электронной криомикроскопии для исследования биообъектов.
Книга предназначена для широкого круга практических специалистов в сфере нанотехнологий, но будет полезна также студентам вузов и разработчикам новых типов растровых электронных микроскопов.

Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий, Методы и применение, Жу У., Уанга Ж.Л., 2021


Столбец «Фаза».
Если пользователем задан более чем один подгоночный модуль, то в этом столбце приводится список самого лучшего соответствия. Каждый подгоночный модуль содержит информацию, необходимую для моделирования картины ДОЭ, формируемой ожидаемой фазой в образце. Наилучшее соответствие между каждым подгоночным модулем и экспериментально полученной картиной ДОЭ определяет фазу и ориентацию в конкретной точке на образце под электронным пучком.

Оглавление.
Предисловие.
Словарь наиболее часто используемых аббревиатур.
Глава 1.Основы растровой электронной микроскопии.
Глава 2.Метод дифракции отраженных электронов (ДОЭ) и примеры исследования материалов.
Глава 3.Рентгеновский микроанализ в наноматериалах.
Глава 4.Низкокиловольтная растровая электронная микроскопия.
Глава 5.Электронно-лучевая нанолитография в растровом электронном микроскопе.
Глава 6.Просвечивающая растровая электронная микроскопия для исследования наноструктур.
Глава 7.Введение в наноманипулирование in situ для конструирования наноматериалов.
Глава 8.Применение фокусированного ионного пучка и двухлучевых систем DualBeam для изготовления наноструктур.
Глава 9.Нанопроволоки и углеродные нанотрубки.
Глава 10.Фотонные кристаллы и устройства.
Глава 11.Наночастицы и коллоидные самосборки.
Глава 12.Наноблоки, изготовленные посредством темплатов.
Глава 13.Одномерные полупроводниковые структуры с кристаллической решеткой типа вюрцита.
Глава 14.Бионаноматериалы.
Глава 15.Низкотемпературные стадии в наноструктурных исследованиях.

Купить .

Дата публикации:






Теги: :: :: :: :: ::


Следующие учебники и книги:
Предыдущие статьи:


 


 

Книги, учебники, обучение по разделам




Не нашёл? Найди:





2024-11-02 06:22:34