Физические методы исследования, Металлография, микроскопия, электронная спектроскопия, Шеин А.Б., Габов А.Л., 2023

Физические методы исследования, Металлография, микроскопия, электронная спектроскопия, Шеин А.Б., Габов А.Л., 2023.

   Цель издания - познакомить студентов химического факультета, изучающих дисциплины «Физические методы исследования» и «Методы локального анализа и анализа поверхности», с теоретическими основами, экспериментальными возможностями и аппаратурным оформлением микроскопических и спектроскопических методов исследования и анализа поверхности твердых тел. Особое внимание в учебном пособии уделяется методам рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии и Оже-электронной спектроскопии, широко применяемым в химических исследованиях для качественного и количественного анализа состава приповерхностных слоев материалов.




Исследование макроструктуры.
Макроструктуру металлов изучают путем просмотра поверхности специально подготовленных образцов (макрошлифов) или изломов невооруженным глазом или при небольших увеличениях (до 30 раз).

Макроанализ дает представление об общем строении металла и позволяет оценить его качество после различных видов обработки.

Этот анализ не позволяет определить подробности строения и часто является предварительным видом исследования; однако он позволяет выбрать участки, которые требуют дальнейшего микроскопического исследования.

ОГЛАВЛЕНИЕ.
Введение.
Глава 1. Методы оптической микроскопии. Металлография.
1.1. Общие положения.
1.2. Методы исследования макро- и микроструктуры.
1.3. Методы оптической (световой) микроскопии.
Глава 2. Методы электронной микроскопии.
2.1. Общие положения.
2.2. Сканирующая электронная микроскопия.
2.3. Просвечивающая электронная микроскопия.
Глава 3. Методы электронной спектроскопии.
3.1. Общие положения.
3.2. Общие требования к образцам и экспериментам.
3.3. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия (РФЭС).
3.4. Ультрафиолетовая фотоэлектронная спектроскопия (УФС).
3.5. Оже-электронная спектроскопия (ОЭС).
3.6. Спектроскопия электронных потерь энергии (СПЭ).
3.7. Дифракция медленных электронов (ДМЭ).
3.8. Резерфордовское обратное рассеяние (POP).
3.9. Масс-спектрометрия вторичных ионов (МСВП).
Глава 4. Методы зондовой микроскопии.
4.1.Сканирующая туннельная микроскопия.
4.2.Атомно-силовая микроскопия.
Глава 5. Эллипсометрия.
Список использованных источников.



Бесплатно скачать электронную книгу в удобном формате, смотреть и читать:
Скачать книгу Физические методы исследования, Металлография, микроскопия, электронная спектроскопия, Шеин А.Б., Габов А.Л., 2023 - fileskachat.com, быстрое и бесплатное скачивание.

Скачать pdf
Ниже можно купить эту книгу по лучшей цене со скидкой с доставкой по всей России.Купить эту книгу


Скачать - pdf - Яндекс.Диск.




Теги: учебник по физике :: физика :: Шеин :: Габов :: металлография :: микроскопия :: спектроскопия