Моделирование, тестирование и диагностика цифровых устройств, Сперанский Д.В., Скобцов Ю.А., Скобцов В.Ю., 2016

Моделирование, тестирование и диагностика цифровых устройств, Сперанский Д.В., Скобцов Ю.А., Скобцов В.Ю., 2016.

Целью предлагаемого читателю курса лекций является изложение некоторых разделов теории (и ее приложений), которую в широком смысле можно назвать тестированием цифровой аппаратуры. Более точно, основное внимание будет уделено вопросам генерации тестов, моделированию работы цифровых устройств (ЦУ) и рациональному представлению диагностической информации. Здесь будет дано описание многих понятий, моделей и методов, используемых в упомянутой теории, которые с полным правом можно назвать ставшими классическими. Наряду с ними будут изложены сравнительно недавно возникшие понятия и методы, которые уже подтвердили свою полезность и эффективность. В курсе излагаются алгоритмы и методы логического моделирования исправных и неисправных цифровых устройств, востребованные при решении задач технической диагностики. Описываются методы построения проверяющих и диагностических тестов для комбинационных устройств и устройств с памятью, широко используемые на этапах их проектирования и эксплуатации. Представлены методы обработки результатов тестирования и диагностики устройств, а также сокращения диагностической информации с целью локализации неисправностей.





Уровни и области моделирования.

В лекции вводятся области проектирования - физическая, структурная и поведенческая. Для каждой области возможны различные уровни моделирования — схемный, логический, языков регистровых передач, системный. Показана связь между областями и уровнями моделирования. Рассмотрены основные аспекты тестирования. При автоматизации проектирования и диагностирования цифровых устройств (ЦУ) широкое применение находят системы моделирования. Для представления устройств они требуют соответствующих математических моделей. При проектировании ЦУ следует различать модели устройств и их спецификации £1]. Спецификации описывают устройство в терминах получаемых результатов проектирования, таких как схемы, временные диаграммы и т.п. Модели используются в процедурах проектирования устройств при моделировании в данной области (domain), на данном уровне представления для проверки соответствия заданным спецификациям. Они также применяются для установления соответствия между различными уровнями и областями проектирования.

Содержание.

Титульная страница.
Выходные данные.
Лекция 1. Уровни и области моделирования.
Лекция 2. Модели цифровых устройств.
Лекция 3. Логическое моделирование.
Лекция 4. Модели логических элементов.
Лекция 5. Машинные модели логических схем и управление процессом моделирования.
Лекция 6. Анализ состязаний.
Лекция 7. Система многозначных алфавитов и функций.
Лекция 8. Физические дефекты и неисправности.
Лекция 9. Константные неисправности.
Лекция 10. Неконстантные неисправности.
Лекция 11. Последовательное и параллельное моделирование неисправностей.
Лекция 12. Дедуктивный метод моделирования неисправностей.
Лекция 13. Конкурентный и дифференциальный метод моделирования неисправностей.
Лекция 14. Моделирование неисправностей задержек распространения сигналов.
Лекция 15. Приближенные методы моделирования неисправностей.
Лекция 16. Синтез тестов для комбинационных схем.
Лекция 17. Синтез тестов для заданной неисправности.
Лекция 18. Многомерная активизация путей в шестизначном алфавите.
Лекция 19. Методы генерации тестов PODEM, FAN и SOCRATES.
Лекция 20. Построение тестов с использованием алфавитов большой значности.
Лекция 21. Выполнимость булевых функций и бинарные диаграммы в построении тестов.
Лекция 22. Построение тестов для устройств с памятью на основе экспериментов с автоматами.
Лекция 23. Структурное построение тестов для устройств с памятью.
Лекция 24. Влияние стратегий наблюдения выходных сигналов на построение тестов для схем с памятью.
Лекция 25. Эволюционные методы генерации тестов.
Лекция 26. Методы компактного тестирования.
Лекция 27. Представление диагностической информации.
Лекция 28. Словари неисправностей и способы их организации.
Лекция 29. Сокращение диагностической информации при помощи масок.
Лекция 30. Оценка эффективности генетических алгоритмов поиска масок.
Лекция 31. Жадные алгоритмы поиска масок.
Лекция 32. Жадный алгоритм поиска индивидуальных масок.
Лекция 33. Экспериментальные результаты апробации жадных алгоритмов.
Лекция 34. Сокращение диагностической информации с использованием хеш-функций.
Список литературы.



Бесплатно скачать электронную книгу в удобном формате, смотреть и читать:
Скачать книгу Моделирование, тестирование и диагностика цифровых устройств, Сперанский Д.В., Скобцов Ю.А., Скобцов В.Ю., 2016 - fileskachat.com, быстрое и бесплатное скачивание.

Скачать djvu
Ниже можно купить эту книгу по лучшей цене со скидкой с доставкой по всей России.Купить эту книгу


Скачать - djvu - Яндекс.Диск.




Теги: Сперанский :: Скобцов :: 2016 :: моделирование