Автор: Байда Н.П.
1987.
Рассмотрены вопросы проектирования и применения микропроцессорных систем тестового поэлементного диагностирования (СПД) и контроля радиоэлектронной аппаратуры и микросборок. Анализируются дефекты и даются рекомендации по их эффективному обнаружению. Изложена методика автоматизированного получения рабочих программ поэлементного диагностирования. Приведены конкретные технические решения ряда устройств СПД.
Для инженерно-технических работников, занимающихся разработкой и эксплуатацией систем контроля и диагностирования.
