Основы физики микроэлектронных систем металл-диэлектрик-полупроводник, Литовченко В.Г., Горбань А.П., 1978.
В монографии рассмотрены методы получения слоистых структур типа диэлектрик — полупроводник, металл — диэлектрик — полупроводник, способы различных активных воздействий на их физические свойства и приборные характеристики. Большое внимание уделено изложению физических представлений о механизмах протекания неравновесных явлений в полупроводниках и диэлектриках.
Рассчитана на научных и инженерно-технических работников, специализирующихся в области полупроводниковой интегральной электроники.
Горбань
Основы физики микроэлектронных систем металл-диэлектрик-полупроводник, Литовченко В.Г., Горбань А.П., 1978
Скачать и читать Основы физики микроэлектронных систем металл-диэлектрик-полупроводник, Литовченко В.Г., Горбань А.П., 1978Оптические измерения, Борбат А.М., Горбань И.С., Охрименко Б.А., 1967
Оптические измерения, Борбат А.М., Горбань И.С., Охрименко Б.А., 1967.
В книге рассмотрены физические основы микроскопических, фотометрических, пирометрических, интерференционных и поляризационных измерений. Описаны измерения потоков энергии и выхода люминесценции, измерения процессов релаксации свечения и методы измерения показателей преломления. Приведены схемы конструкций приборов для проведения оптических измерений.
Книга является учебным пособием для студентов ВУЗов, а также может быть использована инженерно-техническими работниками, связанными с оптическими измерениями.
Скачать и читать Оптические измерения, Борбат А.М., Горбань И.С., Охрименко Б.А., 1967В книге рассмотрены физические основы микроскопических, фотометрических, пирометрических, интерференционных и поляризационных измерений. Описаны измерения потоков энергии и выхода люминесценции, измерения процессов релаксации свечения и методы измерения показателей преломления. Приведены схемы конструкций приборов для проведения оптических измерений.
Книга является учебным пособием для студентов ВУЗов, а также может быть использована инженерно-техническими работниками, связанными с оптическими измерениями.