Рассматривается задача прогнозирования помехоустойчивости вычислительной техники при воздействии макроисточников электромагнитных помех, когда возникают трудности с изготовлением макетов и имитаторов электромагнитного поля в реальном масштабе. Предложена методика и математические модели для прогнозирования помехоустойчивости вычислительной техники при воздействии макроисточников электромагнитных помех на основе физического моделирования. Разработаны стенды, физические модели и представлены примеры реализации предложенной методики прогнозирования помехоустойчивости вычислительной техники при воздействии макроисточников электромагнитных помех на основе физического моделирования для решения практических задач.
Предназначено для широкого круга научных и инженерно-технических работников, занимающихся вопросами обеспечения помехоустойчивости и информационной безопасности вычислительной техники. Будет полезна студентам, обучающимся по направлениям «Информатика и вычислительная техника», «Информационная безопасность» и «Конструирование и технология электронных средств».
